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测试半桥电路 TPS28225 NCP3420驱动MOS半桥

时间:2021-03-06 11:27:14

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测试半桥电路 TPS28225 NCP3420驱动MOS半桥

▌01TPS28225驱动半桥MOS电路

⊙ 相关链接:

测试TI高速MOS驱动芯片 TPS28225 伴随着MOS半桥

MOSFET驱动器汇总 : 单个N-CHANNEL,半桥,全桥,3项桥

1.测试电路1

TPS28225数据手册▲ 测试电路SCH▲ 快速制版 PCB▲ 新购买到的TPS28225

2.电路测试

(1)当CB电容=0.1uF

VCC在不同电压值的时候,会影响输出信号。下面记录了不同的VCC对于OUT波形的影响。

当VCC超过4V的时候,输出波形消失。

▲ 不同的VCC对于OUT的影响▲ 不同的VCC对于HGATE波形的影响

分析其中的原因,可以看到对于UGATE驱动是,由于CB(0.1uF)存储的电荷不够,使得UGATE的电压呈现急剧下降的波形。

▲ UGATE波形,VCC=3.5V

查找IRF3710的数据手册,IRF3710栅极-源极之间的电容特性:

Ciss = 3130pFQg = 130nC▲ MOS管 F3710s▲ IRF3710的基本特性▲ IRF3710的栅极和源极之间的电容

(2)Cb使用10uF

▲ CB使用10uF的时候对应的UGATE的波形

输出波形

▲ CB使用10UF对应的输出波形

TPS28225中的CB需要取值满足能够给MOS 栅极驱动所需要

基于HIP6601的MOS的半桥电路测试将会对比HIP6601 是否具有相同的问题。

3.测量过渡过程

▲ ###ts▲ 下降沿波形▲ 驱动电阻为0时对应的波形▲ 驱动电阻为10时对应的波形▲ 驱动频率为100kHz, R0=27Ω

注意:MOS 栅极电阻,需要超过添加。

▌02NCP3420驱动半桥

NCP3420数据手册

1.建立元器件

▲ 内部结构图▲ 典型应用电路▲ NCP3420 原理元器件;SOP-8

注意:在第一次设计元器件库器件的时候,错误的将PGND的管脚(应该是PIN6)写成了PIN7,见上面这个设计,所以第一次制作的电路板并不工作。输出始终是低电平

2.测试电路图2

▲ 测试电路SCH▲ 修改后的电路板进行测试

非常奇怪:始终无法获得的输入输出的正确的波形!!

▌结论

■ 相关文献链接:

测试TI高速MOS驱动芯片 TPS28225 伴随着MOS半桥MOSFET驱动器汇总 : 单个N-CHANNEL,半桥,全桥,3项桥TPS28225数据手册IRF3710基于HIP6601的MOS的半桥电路测试NCP3420数据手册

测试电路AD工程文件:AD\SmartCar\\WirelessBeacon\TestHalfBridge.PcbDoc * ↩︎

测试电路AD工程文件:AD\SmartCar\\WirelessBeacon\TestNCP3420.SchDoc ↩︎

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